颗粒与科技发展关系十分密切,在生产和生活的各个领域都有重要作用,因此,颗粒粒度测量具有重要意义。在微米级颗粒粒度测量中,激光粒度仪应用广泛,具有非接触、速度快、可测粒度范围大的特点。激光粒度仪仍存在结构复杂、测量粒度分布范围较小的问题。本文根据Mie散射和菲涅耳衍射原理,通过分析颗粒衍射光强分布特点,提出采用折反式光路实现激光粒度测量,从而提高可测粒度范围。在此基础上,开发了折反式激光粒度仪样机,并开展了相关实验。论文主要工作如下:1.基于Mie散射理论和衍射理论,提出折反式激光粒度测试方法,分别在两个频谱面各设置一个探测器阵列接收信号,实现激光粒度测量,推导了折反双光路结构的相关公式。2.根据提出的折反光路结构,计算和选择了相关参数及硬件。在光学系统中,采用两条光路,其中一条光路采用单个接收透镜和半透半反镜,在焦平面上接受光信号;另外一条光路采用两个透镜组进行组合,在组合焦平面上接收信号。在光电探测器选用方面,分别采用两种结构形式的光电探测器阵列,并设计了相关电路,实现了信号采集。根据上述结构设计了激光粒度测试样机。开发了下位机程序;采用VS2010开发了上位机程序,包括光路对中、数据采集、显示和储存等模块;采用Matlab设计程序,对不同粒度分布的颗粒系进行光能分布模拟,并实现了改进共轭梯度算法,用该算法模拟和反演了颗粒粒度分布,验证了折反式测量方法的可靠性。3.采用开发的样机,用两种标准样品及其混合物进行了实验,并与标称值进行比较,得到较为一致的结果。同时对未知分布的样品进行了测量,得到相关结果。