随着光伏发电在世界能源消耗中占有的席位越来越重要,发电系统也越来越庞大，一个发电系统中集成的光伏组件越来越多，尽管增加系统电压和采用更少的逆变器能够减少整个系统的成本，但这样会使光伏组件暴露在高压（High Voltage Stress, HVS）下，引起衰减。造成这种现象的部分原因是由于现有的测试和标准没有充分评估在系统阵列中的高压对组件耐久性的长期影响。因此，研究电势差引起的衰减(Potential Induced Degradation, PID)效应不仅能够防止系统内的功率衰减，更可以减少组件的整体功率衰减，延长组件的使用寿命。本课题探讨了晶硅太阳能电池的现状与发展，包括晶硅电池的基本原理以及影响效率的因素分析。针对电池片级别的PID进行研究，从电池片的层面改善电势差导致的功率衰减。通过分析影响效率和PID的因素，本课题将集中研究防反射膜工艺的改善。这样可以在不影响组件制作工艺和系统架构工艺的情况下，改善光伏系统的衰减趋势，延长组件的使用寿命。