【摘 要】
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扫描探针显微镜(scanning probe microscopy,SPM),突破了衍射极限的限制,完全不同于传统显微镜的概念,它采用细小到纳米尺度的探针在样品表面扫描,从而获得样品的超微结构的信息。本文重点讨论的原子力显微镜(atomic force microscopy,AFM)就是SPM大家族中重要的一员。原子力显微镜在材料科学和生命科学领域得到了广泛的应用。本文基于原子力显微镜系统,对超高
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扫描探针显微镜(scanning probe microscopy,SPM),突破了衍射极限的限制,完全不同于传统显微镜的概念,它采用细小到纳米尺度的探针在样品表面扫描,从而获得样品的超微结构的信息。本文重点讨论的原子力显微镜(atomic force microscopy,AFM)就是SPM大家族中重要的一员。原子力显微镜在材料科学和生命科学领域得到了广泛的应用。本文基于原子力显微镜系统,对超高密度近场光存储进行了初步的读写实验研究,并得到了初步实验结果。实现了在Ge_2Sb_2T
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