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实验刻度了GEM60P4型高纯锗（HighPurity Germanium，HPGe）探测器在H=250mm处对三种圆形面源（Ф24mm、Ф80mm和Ф90mm、的峰探测效率，结果表明，这三种源的效率基本一致。采用MCNP模拟了Ф40—160mm内的圆形面源效率，研究了探测效率随样品直径的变化关系，并采用Geant4计算了圆形面源对同轴探测器的有效立体角。对Ф90mm以上的样品源，探测效率随源直径的增大在逐渐减小，且高能γ射线效率减小程度较快，需采用标准源进行效率刻度。