测量薄膜材料n、k、d的一种简单方法

来源 :红外研究(A辑) | 被引量 : 0次 | 上传用户:ankang1991
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本文介绍一种测定薄膜材料光学参数的简单方法,该方法根据透过率极值与n、k、d之间的关系算出n、k、d值。用小型机算机很容易实现这个计算。 This paper presents a simple method for the determination of the optical parameters of thin film materials. The method calculates n, k, d values ​​based on the relationship between the extreme value of transmittance and n, k, d. It’s easy to do this with a small computer.
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