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以Nipun Agarwal等人的实验结果为依据,用微磁学理论对外径为300nm、内径50nm、厚度不同、含有不同角度缺口的Co纳米环在不同方向（垂直和平行于盘的缺口方向）磁场作用下的磁化反转过程进行模拟。从剩磁态、剩磁比和矫顽力三个方面对模拟的结果进行分析比较。当磁场的方向垂直于缺口方向时,Co纳米环具有稳定的剩磁态,这与已有的研究结果一致。剩磁比随缺口角度的增大而增高,随厚度的增大无明显变化;矫顽力与磁体厚度和缺口角度的关系较为复杂。