目的:探讨血管内皮生长因子(VEGF)对低温冻存内皮生长晕细胞(EOCs)凋亡率的影响及其与PI3K-Akt-Bad信号通路的关系,研究VEGF降低低温冻存EOCs凋亡率的可能机制。方法:采用密度梯度离心法分离人脐带血中的单个核细胞,经体外扩增培养EOCs,用免疫细胞化学染色及荧光染色法鉴定细胞的内皮特性。以扩增后的第二代细胞为生物材料,将其分为W组(wortmannin干预24 h后冻存)、W+V组(wortmannin干预24 h后+50μg/L VEGF冻存)、BC组(空白对照组)、V组(50μg/L VEGF冻存),于-80℃冻存24 h后复苏。用流式细胞术检测EOCs凋亡率,Western blot法检测p-Akt、Bad、Caspase 3的表达量。结果:采用体外扩增培养的EOCs具有多种内皮细胞特性。低温冻存会增加EOCs的凋亡率(为5.36%±0.27%),但50μg/L VEGF能够降低低温冻存和复苏过程EOCs的凋亡率(为3.36%±0.27%,P<0.05);经wortmannin对PI3K特异性抑制后,VEGF对EOCs的保护作用减弱,细胞的凋亡率增加(为8.34%±0.57%,P<0.05);加50μg/L VEGF的EOCs冻存细胞p-Akt表达升高而Bad和Caspase 3表达降低(均P<0.05),经wortmannin干预24 h后的EOCs冻存细胞p-Akt表达降低而Bad和Caspase 3表达升高(均P<0.05)。结论:50μg/L VEGF能够降低低温冻存EOCs的凋亡率,其作用可能通过PI3K-Akt-Bad信号通路来实现。