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目的：观察分别毁损大鼠杏仁核不同部位后记忆和行为的变化，探讨杏仁内、外侧核群在记忆和行为调节中的作用。方法：用立体定向技术将电极插入大鼠杏仁核的内、外侧核群后通电毁损，用被动逃避实验和空旷实验测定并分析毁损组和对照组大鼠自由活动量、探究行为以及对伤害记忆的影响。结果：外侧核群毁损组空旷实验中直立次数和爬行格数分别为3.25±1.58和50.88±17.44，进入黑箱的潜伏时间为137.52±42.19s。与对照组相比其直立次数有极显著差异（P<0.01），潜伏时间有显著