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采用微波-H2O2联合降解法,在均相条件下制备窄分布的低分子量壳聚糖,研究了H2O2浓度、辐射阳极电流、辐射时间以及体系温度对壳聚糖降解的影响。结果表明,降解产物的分子量可以通过实验参数的变化进行调控,且重复性较好。通过FT-IR、XRD对低聚壳聚糖进行了结构表征,证明降解前后壳聚糖的基本化学结构没有改变,只是聚合度发生了变化。当H2O2浓度为4%,辐射阳极电流为70 mA,辐射时间为6 min,体系温度控制在70℃时,能够得到分子量6000左右的低聚壳聚糖,此产品具有一定的阻垢性能。