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对红外透射光谱法测定HgCdTe液相外延材料纵向组分分布技术进行了深入的研究．红外透射光谱的理论计算采用了王庆学提出的组分分布模型，并考虑了光穿越组分梯度区时产生的干涉效应．通过测量同一样品在不同外延层厚度下的一组红外透射光谱，该方法的有效性得到了实验验证．进一步对组分模型中参数（即外延总厚度、组分互扩散区厚度、材料表面组分和HgCdTe层组分梯度）的拟合方法进行了讨论，并确定了各拟合参数的拟合精度．结果显示，该方法可作为测定HgCdTe液相外延材料组分特性的一种有效的测试评价技术．