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本文基于电路分割的思想提出了一种低功耗扫描测试方法。该思想主要是将原始电路分成不同的几部分，每个部分能够单独进行扫描测试，通过减少同时被测的扫描寄存器的数量来达到降低测试功耗的目的。实验证明该方法使得扫描测试中的峰值功耗降低了60％，并且通过在电路中加入适当的wrapper结构，有效地解决了由于电路分割造成的故障覆盖率损失。