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研究高效率的系统故障测试算法，建立有效的嵌入式存储器测试方法，对提高芯片良品率、降低芯片生产成本，具有十分重要的意义。从存储器基本故障原语测试出发，在研究March LR算法的基础上，提出March LSC新算法。该算法可测试现实的连接性故障，对目前存储器的单一单元故障及耦合故障覆盖率提升到100％。采用March LSC算法，实现了内建自测试电路（MBIST）。仿真实验表明，March LSC算法能很好地测试出嵌入式存储器故障，满足技术要求。研究结果具有重要的应用参考价值。