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容错设计技术是提高计算系统可信性的重要措施。高能粒子辐射引起的软错误曾被认为是影响宇航电子用品可靠性的首要因素。随着集成......
太空环境中含有大量的高能粒子,这些高能粒子的存在将对航天器的正常工作构成严重的威胁。当航天器中的半导体器件受到粒子的轰击......
文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51．首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构，采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转（SEU）和组......
针对太空环境下粒子辐射引发的软错误已经成为芯片失效的主导原因，提出一种容软错误锁存器结构——DIL—SET。该结构在内部构建基于......
随着工艺尺寸的逐渐缩小，集成电路中由放射性粒子引起的软错误不断增加，在设计时必须考虑由软错误引起的可靠性问题。使用软错误免疫......
