在片测试相关论文
近年来,随着射频微波领域建模研究及仿真工具和技术的发展,国内关于虚拟数字化样机相关大型系统工程在雷达电子对抗及通信系统等领......
5G,也就是第五代移动通信技术,已经发展成当前通信领域的一个研究热点。随着5G技术的普及,无线通信技术朝着高功率、高频率方向不......
提出了一种一体化晶圆级微波单片集成电路(MMIC)自动测试技术方案,对矢量网络分析仪主控接口进行深度开发,采用以工控机和矢量网络......
在片微波参数测量系统主要通过探针台建立微波仪器与半导体裸芯片之间的信号连接通道,从而测量半导体裸芯片的微波参数.在片微波参......
研制了一种 T 型栅长为90 nm 的 InP 基 In0.52Al0.48As/In0.65Ga0.35As 赝配高电子迁移率晶体管(PHEMTs).该器件的总栅宽为2×25 ......
现有商用集总参数校准件电路模型使用简便,但由于校准件电路模型的不完善、电路中参数在提取过程中采用拟合算法等原因,导致其定值......
微波单片集成电路(MMIC)在片测试技术是应用于MMIC和高速集成电路研究、生产的新型测试技术.MMIC在片测试探头是MMIC在片测试系统......
建立了标准CMOS工艺电感在片测试寄生参量模型．实验验证了相同频率时，信号线寄生的串联电阻、串联电感、并联电容与信号线的长度成正......
射频在片测试是获取射频器件电学特性参数的重要手段,是精确表征器件特性的基础。因此对校准方法的研究以及校准的误差分析是微波......
准确测量芯片的高频特性以改进设计和制造工艺,是发展高速和微波集成电路的重要条件之一。微波集成电路测试技术在当今集成电路产......
相控阵技术由于可以通过信号相加提高信噪比,并具有波束成形和波束扫描的功能,已经成为目前的研究热点。相控阵系统根据移相器所处......
本文介绍了用于射频微波集成电路在片测试的去嵌技术，包括开路去嵌法、开路短路去嵌法以及焊盘开路短路去嵌法，比较了常用的开路去嵌......
<正>一、引言MEMS晶圆片测试是MEMS传感器产品整个工艺流程中必不可少的重要环节,MEMS在片测试系统就是为适应晶圆片测试的特殊需......
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大信号有源负载牵引测试系统是评估微波毫米波功率器件的非线性特性的重要手段。介绍谐波有源负载牵引测试的基本原理及其测试系统......
讨论了功率单片在片脉冲测试中在片校准技术、脉冲功率测试技术等难题,并在讨论以上问题的基础上,实现工程化应用,该测试技术能够......
在现代低成本、低功耗CMOS全集成无线通信系统中片上集成变压器已经开始得到广泛应用。片上集成变压器在低压电路中可以提供无电压......
随着微波射频技术和工艺的快速发展,微电子产品的集成度不断提高,工作频率也在不断提高,越来越多的产品被应用于射频微波频段。在......
射频测试是射频集成电路生产的关键技术。针对全面性能测试的要求,提出了用于射频IC的直流在片测试系统和小信号S参数测试系统,并......
无线通信的迅猛发展激发了射频收发器设计的热潮。片上电感是高性能压控振荡器（VCO）、低噪声放大器和无源滤波器等集成电路模块的重......
随着深亚微米CMOS工艺的不断发展,器件特征尺寸不断减小,MOSFET器件的截止频率也越来越高,已经超过了100GHz,在市场上已经有越来越......
准确地测量微波集成电路及高速器件的高频特性,是微波集成电路与器件发展的重要条件。传统的测试方法是把芯片封装后放在测试盒中......
为了提高数字集成电路芯片的驱动能力,采用优化比例因子的等比缓冲器链方法,通过Hspice软件仿真和版图设计测试,提出了一种基于CSM......
针对微波在片测试项目多、参数复杂、数据处理灵活性大的特点,开发了工艺控制微波数据处理软件,但该软件存在离散数据剔除难的问题......
介绍了两种适于毫米波应用的RF MEMS实时延时线的设计。首先,在设计中采用了一种新颖的RF MEMS拓宽调节范围的变容器结构,得到了最......
本文描述了使用共面微波探针的半导体芯片在片测试技术.设计研制出的多种微波探针性能参数稳定，使用寿命在十万次以上，用于在片检测......
