【摘要】高能粒子进入功率MOS器件后，会引起SEE（Single Event Effect）。本文对功率MOS器件的SEE效应的机理进行了分析，研究了SEE失效敏......

建立了2 5 2 Cf裂片源模拟空间重离子的单粒子烧毁 (SEB)和单粒子栅穿 (SEGR)效应的实验方法和测试装置 ,并利用该装置进行了功率M......