嵌入式DRAM相关论文
本论文针对基于eDRAM的SOC中存储系统的性能评估问题、设计问题和可复用的eDRAM的集成技术问题进行研究,提出了一种定量的存储系统......
据市场分析公司In-Stat／MDR的报告，虽然专用标准产品(ASSP)的应用不断增长，使嵌入式DRAM(embedded DRAM，eDRAM)的增长受到一定限制，但对......
对现代高速网络设备的核心部件－－网络处理器的体系结构、功能进行分析，提出网络处理器中软件的基本并行算法设计思想，并探讨网络处理器......
通过对比分析了嵌入式DRAM的传统测试方法和内建自测试(BIST)方法,提出了嵌入式DRAM的内建自测试(BIST)方案,该方案具有测试生成快......
内建自测试(Built-in Self Test,BIST)是测试片上系统(System-on-Chip,SoC)中嵌入式存储器的重要技术;但是,利用BIST技术采用多种......
