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本文通过对发光二极管(LED)芯片点测技术的研究,比较了LED芯片点测与测试方法的主要差别,描述了LED芯片点测技术的发展和分类.通过实验验证了外围条件因素对点测结果的影响,进一步规范了点测条件,提升了点测精确度和复现性,对LED芯片设计、生产和质量控制具有重要意义.
发光二极管芯片点测的研究
【摘 要】
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本文通过对发光二极管(LED)芯片点测技术的研究,比较了LED芯片点测与测试方法的主要差别,描述了LED芯片点测技术的发展和分类.通过实验验证了外围条件因素对点测结果的影响,
【机 构】
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三安光电股份有限公司,厦门 361009
【出 处】
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2014`全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会暨第七届中国微纳电子技术交流与学术研讨会
【发表日期】
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2014年期
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