作为功率开关,VDMOS器件以其高开关速度、高耐压、低导通电阻、宽安全工作区以及很好的热稳定性等特点,在电力电子的应用中占有举足轻重的作用,然而问题是功率VDMOS器件其特殊的内部结构,静电或相关的电压瞬变等外部环境可能会形成闩锁效应(latch-up),导致电路失效,甚至烧毁芯片。大量研究工作表明,功率集成电路的现场失效很多都表现为闩锁效应引起的过电应力失效,这严重妨碍了我国民用、军用电子设备可靠性的提高。目前功率器件电学闩锁效应的研究工作一直难以开展,其根本原因在于测试手段的缺乏。150A传输线脉冲发生器(150A Transmission Line Pulse,150A TLP)是一种间接测试功率器件电学闩锁效应的新的研究方向,可以在高压失效前产生更少的热量,实现“冷触发”,进而测试VDMOS等功率器件承受脉冲时的最大关态击穿闩锁触发电流等参数,判断器件抗闩锁特性防护技术的有效性,节约了器件研制成本,针对上述问题开展了对150A传输线脉冲发生器的研究开发工作,具体如下:(1)深入研究了TLP测试系统和150A TLP测试系统机制和特点,提出了150A TLP的硬件实现方法,开发了低阻抗传输线,提升了终端极化器、继电器等的耐压值,为解决系统过冲或振荡问题,开发了先进的大功率滤波结构,利用继电器的二级驱动模式,实现了150A TLP自动化测试系统;(2)使用搭建的150A TLP测试系统,完成了对系统高压源开关时间的探测以及充电电压的校准,得出了系统输出波形,验证了系统各项参数是否达到预期指标,为后续程序控制创造有利条件;(3)根据测试系统个性化定制软件需求分析,设计了系统功能模块以及实现流程图,借助于图形化编程软件LabVIEW分别完成了对底层驱动、中层功能以及高层用户界面程序的编写与设计工作,实现了150A TLP测试系统的自动化运行;(4)通过150A TLP自动化测试系统应用实验,表明该系统运行稳定,测试误差小,可以精确测试出器件闩锁电流,评估器件抗闩锁性能的优劣,通过高可靠芯片抗闩锁能力筛选测试,有效衡量出不同产品的抗闩锁能力,同时利用150A TLP还可以测试不同栅压对功率器件性能的影响,为超快大功率VDMOS器件可靠性测试提供了检测手段,保障了大功率器件抗闩锁性能的进一步研究。