随着集成电路工艺的发展,特征尺寸的减小,电源电压的降低,频率的升高,使得处理器对干扰变得更加敏感,特别是航天器处于宇宙射线和高能粒子的辐射环境中,在这种辐射环境中微处理器的正常运行可能会受到单粒子效应的影响而中断,使处理器运行错误,因此对处理器的稳定性和可靠性提出了更高的要求。本文基于LEON2处理器IP核,对设计进行了抗辐照加固,并做了详细的功能仿真及FPGA验证,并且对设计进行了综合和静态时序分析。论文研究的主要内容为：1.研究了空间辐照环境对处理器行为的影响机理,这主要涉及到两方面的问题,辐射总剂量和单粒子效应的问题,单粒子效应又分为单粒子翻转(SEU)和单粒子闭锁(SEL)两个问题,通过对单粒子效应的分析对其提出了可行的电路加固技术。2.研究了LEON2处理器的内部结构及性能特点。介绍了AMBA总线协议及其特点。3.讨论了电路的加固技术,详细分析了三模冗余对电路进行加固的原理和结构及三模冗余技术利用DC综合的实现方法。并且介绍了EDAC技术和SOI技术,由于SOI工艺的特点使得采用SOI工艺的微处理器的抗辐射能力大大增强。4.介绍了LEON2功能验证平台及验证方法,对系统进行了详细的功能验证。5.介绍了FPGA验证的流程,并对系统进行了FPGA的原型验证,采用C语言针对处理器的各个功能模块编写了相应的测试程序,利用调试工具Grmon和Chipscope对测试结果进行观察。6.介绍了DC综合的流程,并对设计进行了综合和静态时序分析,得出了综合和静态时序分析报告,系统在120M时钟频率下没有时序违例。