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MgxZn1-xO薄膜是一种新型的宽带隙半导体材料,通过改变ZnO中Mg的含量可使禁带宽度从3.37eV~7.8eV间连续可调,在紫外探测和发射方面有广阔的应用前景。本论文采用双靶射频磁控共溅射法制备了MgxZn1-xO薄膜,选用的衬底分别为蓝宝石、石英和Si。通过X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、紫外可见分光光度计等仪器对所制备的MgxZn1-xO薄膜进行了表征和分析,并讨论了工艺参数如溅射功率、溅射温度、退火温度等对薄膜结晶性能、光学性能的影响。采用湿化学刻蚀法在石英衬底