非标记适配体介导掺N碳点荧光/共振瑞利散射光谱双模分析法检测痕量钾离子

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本文主要介绍了荧光光谱技术和共振瑞利散射光谱技术及双模分析法的研究进展,核酸适配体和碳量子点的研究进展及应用,综述了钾离子的检测方法及其在光谱分析中的研究进展,并阐述了本课题研究内容和研究意义。据此,建立了一个双模分析新方法用于检测痕量钾离子。具体研究工作如下:在pH4.0磷酸氢二钠-柠檬酸缓冲溶液(BS)的条件下,以柠檬酸三钠作为碳源,分别以尿素、三聚氰胺、半胱氨酸、亚硫酸铵作为氮源,采用微波法快速制备了性质稳定的未掺杂碳点(CD0)和四种掺氮碳点(CDUN、CDTN、CDCN、CDAN),加入一定浓度的碳点溶液,再加入钾离子适配体(Apt)时,Apt包裹碳点,荧光和RRS光谱强度逐渐减弱。当加入钾离子(K+)后,K+与Apt形成稳定的G-四分体结合物,使得碳点处于游离状态,随着K+的浓度的增加,体系荧光和RRS光谱强度逐渐增强。在最佳条件下,通过对Apt-BS-CD0/CDUN/CDTN/CDCN/CDAN-K+五种体系的荧光光谱检测方法分析特性比较,Apt-BS-CDUN-K+体系最为灵敏。Apt-K+-BS-CDUN双模体系在375nm处产生共振瑞利散射峰,在450nm处产生荧光峰,随着K+浓度的增加,荧光和RRS信号越强。据此,建立了一种简便、快速、灵敏的荧光/RRS双模测定0.03-0.27 μmol/L钾离子的分析新方法,检出限为0.3 nmol/L。此分析方法实现了荧光光谱技术和共振瑞利散射技术的耦合,使检测结果更加准确、稳定。
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