论文部分内容阅读
为降低线阵CCD拼撞测量难度，提出改进的多光学系统线阵CCD拼接测量法。根据检测幅宽和精度要求，将较宽的被测幅面分成若干区域。各区域放置独立可调的光学成像系统及线阵CCD。调整各光学系统，使总成像范围覆盖整个被测幅面。几个线阵CCD同步驱动并行采集。图像信号通过PCI高速数据采集系统送入计算机。为提高判别速度，采用多尺度灰度形态学方法实现快速图像增强和缺陷判别，每秒钟可处理20幅2048像素×200像素的8bit灰度图像。实验表明，可实现8个线阵CCD拼撞检测幅面宽1.2m彩色感光胶片的表面质量