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本文报道了在氧等离子体中暴露过的热生长氧化硅MOS结构,置于-170至100℃的环境中,经受-0.3至-10MV/cm电场作用1ms至100s的时效处理后,仍然表现出不稳定性的实验结果。1至10ms的时效时间是常负偏压温度不稳定性难度时间的几百,乃于几十万分之一,用这样短的低温负偏压应力,研究了光照对MOS结构负偏压温度不稳定性的影响,实验与预想一致,N型MOS结构应力处理时,若无光照,时效时间短