互连测试相关论文
随着集成电路的规模不断增大,数据处理量日益增多,片上系统(System-on-Chip, SoC)出现了一些与总线相关的问题,如扩展性差、通讯效......
随着电路技术进入超大规模集成(VLSI)时代，系统复杂度的不断提高和工艺技术的持续发展都使得电路节点的物理可访问性正逐步被削弱，测......
基于边界扫描测试技术的故障诊断突破了传统的管脚接触式检测理论和手段,可以解决其他技术无法完成的超大规模集成电路的测试问题,......
SATA2.0接口芯片主要应用于SATA硬盘中，该硬盘是目前主流的存储器。保证SATA2.0与其他芯片之间的正确互连，使得互连故障在测试中被发......
当电路模块利用传统的测试方法，如示波器、逻辑分析仪及在线测试仪等无法访问待测试信号时，边界扫描技术则对电路模块的完整性提......
随着微电子技术的飞速发展,集成电路的复杂度和集成度不断提高,传统的测试方法已经很难满足新的测试要求,尤其是混合电路的广泛应......
学位
随着计算机技术和微电子技术的不断发展,组装工艺不断更新,集成电路的集成度和复杂度不断提高,传统的测试方法越来越难以满足要求,......
芯片间的互连速率已经达到GHz量级,相比较于低速互连,高速互连的测试遇到了新的挑战。本文探讨了高速互连测试的难点,传统互连测试......
IEEE1149．4标准为解决数模混合电路边界扫描测试提供了有效的方法；在IEEE1149．4标准提出的模拟互连测试结构的基础上，结合网络撕裂法故......
SN74ACT8990作为测试总线控制器，主要用于测试数据的交互，是基于边界扫描技术的数字电路测试的核心部件；为了解决上述新兴测试技术在......
为了将边界扫描技术构架更好地应用于电路可测性设计中，在介绍边界扫描结构、测试基本原理的基础上，提出了运用单片机模拟边界扫描时......
互连测试是边界扫描技术的主要内容之一,在分析IEEE1149.1的基础上,给出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统中互连......
IEEE1149．4标准为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法；在IEEE1149.4标准所提出的模拟互连测试结构的基础上，结合K节点故......
单芯片多核设计、片上系统等技术的不断发展为边界扫描技术带来了新的挑战，多扫描拓扑的测试矢量自动生成也成为了研究的重点与热点......
针对等权值算法的不足，将电路板结构信息应用到等权值算法中，提出了一种基于有限制短路故障关系的改进算法；通过测试相似组的概念对测......
互连测试对于电路板的生产和维护具有重要意义．针对现有互连故障检测BIST（built in self test）实现方法存在测试时间长、硬件开销大等......
柏林2009年12月10日电／美通社亚洲／-领先的独立测试实验室欧洲高级网络测试中心（European Advanced Networking Test Center，简称EANTC......
测试矢量是边界扫描技术的关键之一，测试矢量集直接影响测试的效率和结果。文章将遗传算法引入可测性设计中的边界扫描测试领域，以PC......
主要研究边界扫描技术在电路板互连测试中的应用，对互连测试的故障模型和测试方法进行优化。根据电路板制造故障的具体成因和分布情......
IEEE 1149.4的推出为混合信号测试提供了一个标准,推动了混合信号边界扫描测试技术的研究。简要介绍了IEEE 1149.4标准及混合信号......
针对MCM基板互连测试所采用的单探针技术,本文提出一种基于蚁群算法的单探针路径优化算法,通过设定合适的规则,引导探针的移动,缩......
复旦大学研制的类蜂巢结构快速样机平台（HLRESP）采用模块化结构,可以灵活配置和选择功能模块,而扫描链路的设计,以及扫描链路的完整......
已有的路径优化算法在MCM基板互连测试中已经发挥了一定的作用，但由于MCM的高密互连特性，使得测试变得更加复杂和困难，因此人们希望能......
针对FPGA结构中出现特殊互连资源的现状,提出一种基于改进型深度优先搜索的测试算法。该算法将所有可编程互连开关等价对待,互连资......
针对NoC（network on chip）互连测试，提出一种结合蚂蚁算法来进行互连测试的方案。方案采用NoC重用测试访问机制，在功耗约束下，运用蚂蚁......
简要介绍了混合信号测试总线IEEE1149 4标准和KLIC混合信号总线测试用的实验芯片。使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对......
针对多芯片组件(Multi-chip Module)互连测试的特点,用构造互连结构的神经网络状态表,求解满足状态表所有状态的能量函数方程组的......
介绍了基于FPGA的边界扫描测试系统的系统组成，工作原理，以及设计方案。描述了嵌入式测试系统的软硬件设计。文章给出了系统的程序流......
典型地物波谱知识库的体系结构是基于Web的B/S结构,是一种多层的,分布式的环境.对这样一个复杂的大型系统的测试,不同于传统软件的......
简要阐述了边界扫描测试的基本用途，介绍了边界扫描的结构及特点；分析了JTAG的命令和使用方法、测试向量的生成方法：最后给出三个应用......
系统级封装(SiP)因其在微小型化、轻量化、高密度和高可靠性方面的优越性,在宇航、军用电子领域承担重要角色。然而,SiP模块测试随......
介绍了一种基于JTAG测试技术的系统化SiP测试方法.针对SiP的设计要求、测试需求、测试流程和测试评价指标4个方面,提供一套完整的S......
为检测以超大规模集成电路为核心的电子设备,设计了基于边界扫描技术的电路测试系统。对超大规模集成电路进行板级测试,并提出在互......
针对FPGA互连开关的常开、常闭、线段的开路、常0、常1故障,以及连接于同一开关矩阵的互连线段桥接故障的测试诊断问题,提出一种自......
随着电子技术的日益发展,电子电路系统的集成度和复杂性越来越高,边界扫描技术应用越来越广泛。在研究边界扫描基本结构和测试原理......
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随着电路复杂性和集成度的不断提高，测试已成为妨碍LSI/VLSI付诸应用的瓶颈。虽然各国学者在数字电路测试生成上已做了大量的工作，时......
针对某引俄指控电路板中大量采用集成度很高的芯片,传统的测试方法无法进行测试与诊断的问题,运用边界扫描技术开发高集成度、高性......
在FPGA的设计生产过程中,FPGA的测试是一个至关重要的环节。分析了基于SRAM配置技术的FPGA的结构组成及FPGA的基本测试方法。针对6......
电子系统的发展对其测试与故障诊断提出了更高的要求；边界扫描技术为芯片级、电路板级以致系统级测试提供了一套高效的标准化手段，但......
针对某导航雷达控制电路板PCB中大量采用集成度很高的芯片，传统的测试方法无法进行测试与诊断的问题；通过对边界扫描技术的研究，运用......
芯片制造技术的不断发展和封装技术的进步,芯片尺寸压缩、物理探测点变少。同时,PCB多层技术越来越成熟,电路板集成越来越高。电子......
针对现有测试向量存在的不足,提出一种可施加到电路板扫描链上的测试向量自动生成方法,该方法利用被测电路的网络表文件和边界扫描......
随着超大规模集成电路技术的发展，电路的密度越来越高，传统的基于探针测试方法在超大规模集成电路测试中已很难实现，边界扫描技术采用......
蓝牙技术是近几年出现的一种短距离无线连接技术,其应用框架的实现将取代现有的有线电缆,实现各种数据设备间的数据传输。简要介绍......
JTAG边界扫描机制是用于在线导通测试的新技术,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便......
在这篇论文中,我们分析了SRAM-based的FPGA的结构特点,其中重点分析了互连结构和互连资源。另外,我们引入了DFT的概念,并分析了ASI......
