平面阵列电容成像技术是近代以来发展的一种极具创新性的无损检测方法,其不仅具有电容层析技术(Electrical Capacitance Tomography,ECT)的非接触性、响应快速、测量精度高等特点,并且不会受到被测物材料特性和使用空间的限制,能够在不需要任何耦合介质的条件下实现对被测物的无损检测,极大地拓展了此技术的应用领域,为工业方面的缺陷检测提供了一种新的技术手段。为了提高平面阵列电容成像技术的检测精度,本文重点在图像重建算法方面做了深入研究,其主要研究内容在以下几个方面开展:首先,针对平面阵列电容成像系统易受到外界环境以及硬件条件限制的影响致使电容值出现误差的问题,本文提出了一种预先将电容数据模糊聚类优化的成像方法。根据平面阵列电极电容数据的特点,利用模糊聚类优化算法对测量电容值的收敛性以实现数据优化的作用。实验结果表明:图像重建结果所提优化算法可获得更加精确、有效的电容数据,最终图像重建精度与数据优化前相比具有较大提升。其次,为进一步降低外界环境对测量电容值的干扰,本文提出了一种改进的小波滤波成像方法,在这种方法中,首先改进了阈值选取方式,然后用改进阈值选取方式的小波滤波算法对电容数据进行处理,在保证有效数据不变的情况下,降低噪声干扰的影响。最后设计缺陷检测实验,通过电容数据优化前后的对比分析和图像重建结果的对比分析,验证了本文所提出的基于改进小波滤波数据预处理成像方法的优越性。最后,为提高图像重建精度和减少图像重建误差,本文在现有小波融合算法的基础上,结合了区域特征测融合规则和加权平均融合规则,提出一种新型的图像融合算法,该方法可在减小图像噪声干扰的同时融合多种成像算法结果中的缺陷区域信息。并通过仿真实验,最终重建图像精度有了较大提升,验证了该方法在图像重建中的优越性。