光纤绕制技术是光纤制导中的一项关键技术,光纤绕制结构的不规范及其在运输、存贮过程中造成的内部结构缺陷势必会造成放线过程中的断纤现象,所以有必要在使用前,对制导光纤缠绕线包进行检测。而本论文正是在此国防研究背景下展开,进行X射线束光纤线包特征参数测试系统的设计。本文首先对X射线检测原理作了详细的阐述,并且对研究对象制导光纤缠绕线包的特性作了一定的分析研究,在此基础上设计了一套相关的测试系统,该系统主要包括：用于检测的细X射线源；可实现线包高精度平移、竖直移动、360度转动的支架；基于光电倍增管的X射线荧光探测仪；数据采集与处理单元。该测试方案主要利用X射线透过光纤线包,由于光纤层数差异而导致的射线衰减差异,从而能够反映出光纤线包的结构参数。本文对测试环境散射的X射线强度作了多点监测,验证了测试环境的安全性。对制导光纤缠绕线包的整体结构作了X射线束扫描,试验信号数据能够完整反映线包的整体结构。对单层和单匝光纤差异做了模拟试验,得出了模拟缺陷的信号电压变化值。对内部缺陷成功进行了检测,验证了测试系统的实用性。为接下来自动测试系统的开发打下了夯实的基础。