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本文通过空间带电粒子辐射环境地面等效模拟试验,研究GaAs/Ge太阳电池在质子和电子辐照下的电学性能演化规律及损伤机理。根据短路电流退化模型和开路电压退化模型对辐照后GaAs/Ge太阳电池的电学性能退化规律进行非线性模拟分析,建立空间太阳电池多数载流子去除率损伤系数和少数载流子扩散长度损伤系数随入射质子和电子能量变化的基本规律,深入分析空间太阳电池辐照损伤的内在物理机制。电学性能测试结果表明,在电子辐照注量一定时,电子辐照GaAs/Ge太阳电池电学性能退化幅度均随电子能量增加而增大。<200 keV