随着集成电路产业的蓬勃发展和智能终端的普及,存储器芯片的市场不断扩大,而在此背景之下则是芯片与相关测试设备严重依赖国外进口的现状。存储器测试系统可对存储器进行全方位的功能与参数测试,广泛应用于设计验证、生产制造、成品检测等流程中,因而对存储器测试方法与测试设备的研究显得十分必要。本课题的主要研究内容包括:1、FLASH故障机理及测试图形算法研究。FLASH内部的存储单元块可在断电情况下保存数据,并支持擦除与再编程操作。对FLASH进行功能测试,目的是检测出在设计、制造与使用过程中可能存在的功能性故障。根据故障原因不同可抽象出多种故障模型,并通过不同的测试图形算法来检测。2、FLASH存储器测试系统硬件方案设计。本课题根据测试需要,将整体测试系统分为主控CPU、背板、电源板、功能测试模块等四个部分。功能测试模块作为最核心的部分,承担了测试向量产生、处理、发送,以及结果比较的功能。运行测试时,将测试信号通过线缆传输至测试接口板,最终连接至芯片引脚。3、数字测试码型的生成与输出。测试码型要求将向量按照预设的时序边沿信息重组后再发送,并产生对期望结果的精确比较时刻。本课题比较了多种码型生成与输出方案的优劣,讨论了不同方案对于生成速度、资源开销以及成本的影响,选择适基于延时的码型生成方式。4、测试图形生成与协议转换。测试系统支持硬件产生指定测试图形,或使用测试人员设计的自定义测试图形对FLASH进行功能测试。图形生成模块用以产生当前选定的测试流程与测试图形,协议转换模块则将无法直接使用的测试图形转换为遵循该存储器控制协议的测试向量。由于使用硬件生成测试图形,无需人工编写测试向量,执行流程更快,效率更高。本课题研制了一款基于分布式设计的FLASH存储器测试系统,具备每引脚精准测量单元（Pin Parametric Measurement Unit,PPMU）,具备针对FLASH存储器的多种测试图形的生成与测试能力,可进行级联扩展,组成超大规模存储器测试系统实现“多片同测”,大幅提升测试效率。本系统亦可作为数字测试设备对普通数字芯片进行测试。最终,使用本测试系统对待测芯片MT28FW02GBBA进行了包括功能性测试、直流参数测试、交流参数测试的完整测试,并对测试结果进行分析。